BS-6045 Research Inverted Microscopic metallurgical

BS-6045 Investigatio inversa microscopia metallurgica pervestigationis aucta est cum aliquot consiliorum auctorum specie et functionibus, ampla sententiarum provincia, alta definitio et campus obscurus et semi-apochromaticus et apochromaticus metallurgicus proposita et ergonomicalis operandi ratio, praebere potuit. per- solutionem inquisitionis.


Product Detail

Download

Qualitas Imperium

Product Tags

BS-DCXLV Research Inversa metallurgical Microscopia

BS-6045

BS-6045 Research Inversa metallurgical Microscopia Front
34-BS-6045 Research Inverted Microscopic Metallurgical Left

Front

Sinistra parte

Introductio

BS-6045 Investigatio inversa microscopii metallurgica pervestigationi evoluta est cum aliquot consilio auctoris specie et functionibus, ampla sententiarum campus, alta definitio et campus obscurus et semi-apochromaticus et apochromaticus metallurgicus proposita et ergonomicalis operandi ratio, id praebere potuit. per- solutionem inquisitionis.

Features

1. Systema Optica Infinita Praeclara.

Cum praeclara infinita ratio optica, proposita semi-APO et APO, BS-6045 microscopio metallurgica inversa altam resolutionem, altam definitionem et chromaticam aberrationem imaginum emendatam praebet.

2. 3-Stenae Mechanica strata.

3 strata scaena mechanica 340x230mm, ambitus 130x85mm movens, Maximum subsidium 30kgs. Spatium spatiosum ad exemplaria magna et gravia. Anti- scaena superficiei scaenicae, observationi variarum materiarum et figurarum speciminum idoneae. Eodem tempore multae species laminarum speciminum, quae omnia genera speciminum minutorum observare et resolvere potest. Nodus humilis positio flexibilis est accurate et commodus cum sample movens.

BS-6045 3-stratorum Mechanica Tempus
让国人
BS-6045 Research Inverted Metallurgical Microscopium Tempus

3. Clear Imaging, Reliable result.

qqq

(1) NIS45 Semi-APO et APO Objectiva.

NIS45 Infinitus LWD Plan BF&DF 5×, 10×, 20× Semi-APO et 50×, 100x APO lentis obiectiva potest accurate exprimere naturalem colorem accurate utendo subtiliter electo vitreo summo perlucido et artificiis vestiendis provectis.

VI BS-DCXLV Research Inversa metallurgical Microscopium caput
3456
BS-6045 nodi focusing

(2) Camera Interface Available.

Camerae adaptatores in capite trinoculari et utrinque coniungi possunt. Ad coniungere cameram et accessiones varias applicationis extensionis. Per levem vectem scissuram, ad cognoscendam scindendi rationem diversarum viarum opticorum. Simul instrui potest cum 0.4x, 0.5x, 1x C-aditoribus et differentia camerarum ad varias imaginum requisitas.

11

(3) Magnificatio Interna Changeover.

Cum aedificatur in turri magnificatio, mutatio super structuram, 1X et 1.5X magnificatio mutari potest secundum. Ampliorem magnificationem et specimina plura suppeditant.

3333

(4) Kohler, Illuminatio.

Kohler Illuminatio pro perfecta illuminatione systematis microscopiorum habetur, quae perfectam visionem lucidam et aequabilem praebet et simul microscopii functiones amplificare sinit.

4. Maximum flexibilitatem, plura possibilitates praebe.

阿达

(I) Variis Sliders ad High Quality Image.

Campus diaphragma et iris diaphragma adhiberi possunt, campum visum ac acumen imaginandi accommodare, item aberrationem accommodare. Iris diaphragma et colum facile accommodare possunt splendorem vel colorem lucis. Lapsus analystor observationem polaricam et DIC imaginem accommodare potest. Plures iunctae sunt in compositione ut princeps

BS-6045 Research Inversa metallurgica microscopii diaphragmatis
BS-6045 Research Inversa metallurgica Microscopia Polarizing
BS-6045 Research Inversa metallurgical Microscopia Turret

(2) Six Position Specimen Module Turntable Structure.

Adhibet sex positio observationis moduli turntabilis structurae, quae observatio modulorum facile sumi potest ex turntable et opportuno ad unumquemque moduli observationis genus collocandum. Cum utendi, modo convertendi horologium, ut observationis modum mutes, accurate positione et facili utaris.

5. Ergonomic Design, Operatio solatium.

BS-6045 Research Inverted metallurgical Microscope low position of nodi

(1) Low-position of Imperium Knobs.

Coaxial systema ponens cum humili positione XY nodi coaxialis control, sic caput in mensa collocari potest. Consilium ergonomic experientiam commodam operatoribus praebet.

VI BS-DCXLV Research Inversa metallurgical Microscopium caput

(2) 45° Inclinata Spectatio Capitis.

Nulla res stans vel sedens, utentes in statu naturali observare possunt, quae lassitudinem minuunt. Interpupillaris distantiae et diopter ocularium adaptari possunt ad postulationem usoris.

6. Variae Observationes Methodi.

Cum investigationis scientificae evolutionis modus singularis observationis non sufficit ad multiplices investigationes scientificas et exigentiam probationis. BS-6045 multiplex observatio requisita consequi potest, cuiuscumque Campi Bright, Campi Obscuri, DIC, Polarizing ac Fluorescentis observationis, omnes clarum, altam definitionem et imaginem perfectam consequi possunt.

Observatio Modus

Clara Field

Obscurum campum

DIC (libitum)

Fluorescent (libitum)

Polarizing

BS-6045

1
2

Chipum electronicum, Meditatio, campus lucidus

 Pulvis aeneus, Meditatio, Polarizing

1
4

Electrode, Meditatio, campus lucidus

Princeps Chromium nickel mixturae, Meditatio, Polarizing

5
6

Pii nitri impressio, Meditatio, campus tenebrosus

Circuitus integer, Meditatio, DIC

Applicationem

BS-6045 Investigatio inversa microscopia metallurgica late in Institutis et laboratorios usus est ad structuram variarum metallorum et mixturae observandas et recognoscendas, adhiberi potest etiam in electronicis, chemica et semiconductore industria, sicut laganum, ceramicum, circuitus integratos, astulas electronicas. , tabulae ambitus impressae, tabulae LCD, pelliculae, pulveris, cautareae, filum, fibrae, patellae tunicae, aliae non-metallicae, et sic porro.

Specification

Item

Specification

BS-6045

Systema opticum NIS45 Color Infinitus Correctus Ratio Optica (Tube longitudo: 200mm)

Viewing caput Siedentopf Caput trinocularis, 45° inclinatum, interpupillare distans 47mm-78mm; 3 positio trabes bifida ratio: 50/50, 100/0, 0/100

Eyepiece Super amplum campum consilium eyepiece SW10×/22mm, diopter adjustable

Super amplum campum consilium eyepiece SW10×/23mm, diopter adjustable

Lata campus planus eyepiece WF15×/16mm, diopter adjustable

Lata campus planus eyepiece WF20×/12mm, diopter adjustable

Objective NIS45 Infinitum LWD Plan Semi-APO Objectivum (BF & DF) 5×/NA=0.15, WD=20mm

10×/NA=0.3, WD=11mm

20×/NA=0.45, WD=3.0mm

NIS45 Infinitum LWD Plan APO Objectivum (BF & DF) 50×/NA=0.8, WD=1.0mm

100×/NA=0.9, WD=1.0mm

Nosepiece Sextuple Nosepiece (cum DIC socors)

Reflexus Illuminatio Lumen reflexum 12W/100W halogen lucerna, Koehler illuminatio cum 6 positione turris

BF1 clara agri moduli

BF2 clara agri moduli

DF obscurum agri moduli

Inaedificata in ND6, ND25 colum et color correctionis sparguntur

Quattuor cohortis fluorescent moduli

100W HBO Lamp

Focusing Humilis positio coaxialis crassa et tenuis focusing, divisio tenuis 2µm, range movens 9mm

Scaena Scaena mechanica tria iacuit, magnitudo scaenica: 340×230mm, motus range 130×85mm, nodi flexibilis. Diversae magnitudinis parvae gradus adnectitur principale scaena

Auxiliaris scaena 20 apertura campi, Ф28 apertura campi, apertura campi Drop-formatus

Internum magnificatio 1×, 1.5×

Imago output Output mutabilis (Latus sinistrum / Dextrum / Tubus Eyepiece) scindendi ratio: Sinistra / Eyepiece = 100/0; Right / Eyepiece = 80/20; Left (or Right) / Eyepiece = 0/100

DIC Kit DIG 5×-20× (pro 5×, 10×, 20× propositis adhiberi potest)

DIG 50×-100× (pro 50×, 100× propositis adhiberi potest)

Polarizing Kit Polarizer enim illuminatio

Analyser de illuminatione reflexa, 0-360°rotatable

Alia Accessories 0.4× C-montis adaptor

0.5× C-montis adaptor

1× C-mons Adaptor

Pulvis Cover

Virtus Cord

Calibration slide 0.01mm

Specimen Presser

Nota: Standard Outfit, libitum

Dimension

BS-6045 Dimension

Unitas: mm

Systema Diagram

BS-6045 Ratio diagram

Testimonium

mhg *

Logistics

pic (3)

  • Previous:
  • Next:

  • BS-6045 Research Inverted Microscopic metallurgical

    pic (1) pic (2)